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聚力光储,智领未来|致东光电将携全光谱椭偏仪与D8反射仪亮相SNEC2026
聚力光储,智领未来|致东光电科技(上海)有限公司将携全光谱椭偏仪与D8反射仪亮相SNEC 2026
全球能源转型加速,光伏技术正朝着更高效率、更薄型化、更复杂的叠层结构迈进。为展示企业在高端光电检测领域的创新实力,致东光电科技(上海)有限公司(以下简称“致东光电”)将盛装出席第十九届(2026)国际太阳能光伏和智慧能源(上海)大会暨展览会(SNEC PV+ 2026),诚邀各界嘉宾、行业专家与合作伙伴莅临展台交流洽谈!

作为深耕半导体与光伏检测领域三十年的高精度测试仪器供应商,致东光电本次将重点展示针对 Topcon、HJT、钙钛矿(Pervoskite)、PERC 等前沿工艺的全光谱量测解决方案。

展会核心信息
展会名称: 第十九届(2026)国际太阳能光伏和智慧能源(上海)大会暨展览会
展会时间: 2026年6月3日—6月5日
展会地点: 国家会展中心(上海),上海市青浦区崧泽大道333号
公司展台: 2.1H馆 A510展位

核心技术亮相:全光谱椭偏仪(SE)+ D8在线反射仪

针对钙钛矿及叠层电池产业化过程中对膜厚均匀性、光学常数精度的严苛要求,致东光电将在本次展会上重点呈现两款核心量测设备:

1. 全光谱椭偏仪(SE)——多层膜分析利器
该设备专为Topcon、HJT、钙钛矿、PerC、HBC、ABC等各种工艺的单层及多层膜数据分析而设计。它能够精确测量每一层膜的厚度、折射率(n值)和消光系数(k值),尤其适用于:

钙钛矿叠层电池: 精确表征NiO、C60、TiO2、ITO及各层钙钛矿材料的光学常数。
POLY工艺监控: 在线监控多晶硅层厚度,提升TOPCon电池转换效率。
非晶硅/微晶硅: 为HJT电池提供可靠的膜层质量评估。


2. 在线式D8积分式反射仪——产线良率守护者
专为太阳能单晶硅、多晶硅、黑硅、TOPCon、HJT、ABC等电池片量测开发的自动量测设备。该仪器能够快速、非接触地完成:

反射率测试: 针对制绒、碱抛等各种工艺表面进行精确反射率分析。
在线工艺监控: 实时反馈镀膜后(如SiNx、SiON、Al2O3)的均匀性,帮助客户快速调整工艺参数,显著提升良率。

全光谱膜厚测试复合机(SE+SR+TR+4PP)——一站式量测平台
本次展出的另一大亮点是致东光电自主研发的全光谱膜厚测试复合机。该设备集成了光谱椭偏仪(SE)、反射仪(SR)、透过率检测(TR)及四探针方阻测试(4PP),能够实现:

超高精度: 膜厚重复性可达0.5Å(埃米),折射率重复性优于0.0005,为钙钛矿层、传输层提供精准数据保障。
全尺寸兼容: 针对钙钛矿及全硅片尺寸的叠层电池,同时分析厚度、折射率、吸收、透过率、反射率及方阻,一站式解决研发与产线监控痛点。
赋能钙钛矿产业化:从研发到生产的全流程支持
依托于全光谱膜厚测试复合机(SE+SR+TR+4PP) 的技术平台,致东光电的量测方案可同时实现膜厚、折射率、吸收、透过率、反射率及方阻的一站式测试,为钙钛矿及全硅片尺寸叠层电池的研发与量产提供强有力的数据支撑。

诚邀您拨冗莅临2.1H馆 A510展位
亲身体验高精度光学检测设备的卓越性能,共同探讨光伏行业未来的技术路径与量测挑战。致东光电期待与您携手,聚力光储,智领未来!

关于致东光电
致东光电科技(上海)有限公司成立于2006年,母公司里华科技1994年始于台湾新竹。公司秉持“以人为本、客户导向”的理念,是一家集研发、生产、销售、服务为一体的高精度测试仪器供应商,客户遍及IC、TFT-LCD、LED及Solar cell等学术与工业领域。